Navigatie overslaan

Gecombineerde of hybride Raman systemen

Vergroot het analytische vermogen van uw inVia door hem te koppelen aan andere analytische systemen van allerlei fabrikanten.

Voor maximale efficiëntie kunt u uw monster analyseren met twee of meer technieken zonder het te verplaatsen van het ene naar het andere instrument. Met de correlatieve microscoopsystemen van Renishaw kunt u er op vertrouwen dat u met beide technieken hetzelfde punt analyseert.

SPM/AFM: nanometerresolutie

Combineer de inVia met een scantastermicroscoop (SPM), zoals een atoomkrachtmicroscoop (AFM), om de chemische en structurele eigenschappen van materialen te onderzoeken. Voeg chemische resolutie op nanometerschaal toe met TERS en verkrijg aanvullende informatie zoals mechanische eigenschappen.

SEM: beelden met sterke vergroting en elementaire analyse

Breng de Raman analytische mogelijkheden van de inVia naar een scannende elektronenmicroscoop met de Renishaw Raman SEM-SCA interface. Neem met de microscoop beelden met hoge resolutie op van uw monster en voer met röntgen elementaire analyses uit. Voeg het vermogen van Raman toe om materialen en niet-metallische samenstellingen te identificeren, zelfs wanneer ze dezelfde stoichiometrie hebben.

Nanoindentatie: meting van mechanische eigenschappen

Voer metingen uit om mechanische eigenschappen vanuit indentatie direct in situ te correleren met uitgebreide chemische analyses vanuit Raman.

CLSM: confocale beelden

Als u monsters hebt met complexe 3D structuren (bijvoorbeeld biologische cellen), dan kunt u een confocale laserscanmicroscoop (CLSM) toevoegen aan uw inVia, en confocale fluorescentiebeelden correleren met chemische Raman afbeeldingen.

Combineer voor meer vermogen

Correlatieve beeldtechnieken kunnen unieke informatie opleveren die anders verborgen zou blijven. Neemt u contact met ons op voor meer informatie over het koppelen van uw inVia aan andere analytische systemen.

Ontdek meer

Lees een artikel uit het Microscopy and Analysis Journal

Het volgende artikel werd gepubliceerd in april 2015 en is overgenomen met toestemming van het Microscopy and Analysis Journal en Wiley.

Het artikel lezen