inVia™ InSpect confocale Raman microscoop
Onze meest verkochte confocale Raman microscoop, geoptimaliseerd voor sporenanalyse in forensische laboratoria.
Identificeer materialen die met andere technieken moeilijk of pas na lange tijd te vinden zijn, zoals harde kristallijne poeders, keramische scherven en glassplinters, via een gemakkelijke analyse die weinig of geen voorbereiding vraagt.
Kenmerken
Uw inVia InSpect Raman microscoop geeft u:
- Zeer specifieke identificatie - Raman microscopie kan verschil zien tussen chemische structuren, zelfs als die nauw verwant zijn
- Hoge ruimtelijke resolutie - vergelijkbaar met uw andere microscopische technieken
- Een reeks van technieken voor microscopisch contrast - waaronder helderveld-, donkerveld- en polarisatiecontrast met verlichting via gereflecteerd en doorgeleid licht
- Deeltjesanalyse - gebruik geavanceerde algoritmes voor beeldherkenning en controles door het instrument om de verdeling van deeltjes te karakteriseren
- Correlatief afbeeldingen maken - creëer samengestelde afbeeldingen door Raman gegevens te combineren met afbeeldingen vanuit andere microscopietechnieken
Voor meer gedetailleerde informatie kunt u de brochure van de inVia InSpect downloaden.
Empty Modelling™
De Empty Modelling software gebruikt een multivariate analysetechniek om complexe gegevens te ontleden tot hun bestanddelen. Gebruik deze software, met het doorzoeken van bibliotheken, om gegevens te analyseren van monsters die onbekende materialen bevatten.
StreamHR™ kaarten maken
Kaarten maken met StreamHR harmoniseert de werking van de hoogwaardige detector van de InSpect microscopen en de MS30 microscooptafel. Het verhoogt de snelheid van de gegevensopname en bespaart tijd bij het genereren van afbeeldingen.
Volledige automatisering
Uitlijning, kalibratie en configuraties beheert u allemaal via de WiRE software van Renishaw. U kunt bijvoorbeeld snel wisselen - door een knop aan te klikken - tussen een monster bekijken en Raman analyse.
Toepassingen
Schotresten van wapens
De inVia InSpect microscoop biedt een uitgebreid pakket voor de analyse van schotresten uit wapens, ongeacht waar ze vandaan komen, en dat levert voordelen bij de detectie en identificatie van zowel organische als anorganische resten. In deze toepassing bespreken we enkele belangrijke karakteristieken en voordelen van Raman techniek voor de analyse van schotresten.
Vervalste documenten
Er zijn veel verschillende soorten inkt. Ook al zijn de kleuren hetzelfde, toch kunnen er chemische verschillen zijn. Met Raman analyse via de inVia Raman microscoop zijn twijfelachtige gedeelten snel en niet-destructief te testen en is onderscheid vast te stellen tussen soortgelijke inktsoorten die er visueel hetzelfde uitzien.
Wilt u meer weten?
Uw plaatselijke vertegenwoordiging helpt u graag als u vragen hebt.
U kunt contact opnemen door een formulier in te vullen of een e-mail te sturen.
Ontvang het laatste nieuws
Blijf op de hoogte van onze nieuwste innovaties, nieuwsberichten, toepassingen en productintroducties, en ontvang updates rechtstreeks in uw inbox.
Downloaden: inVia InSpect Raman microscoop
-
Brochure: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The perfect addition for trace analysis in your forensic laboratory.
-
Application note: GSR analysis with inVia InSpect [en]
Using Raman spectroscopy to analyse gunshot residue, an important class of trace evidence, relevant to investigations involving the alleged use of a firearm.
-
Analysing paint samples with the inVia InSpect Raman microscope [en]
This application note explores some of the key features that make Raman spectroscopy so powerful for paint analysis, as part of the forensic microscopist’s trace analysis suite.
-
Data sheet: inVia InSpect confocal Raman microscope [en]
The Renishaw inVia InSpect confocal Raman microscope has been optimised for use in forensic laboratories for trace analysis.
Specificaties
Parameter | Waarde | |
| Golflengtebereik | 200 nm tot 2200 nm | |
| Ondersteunde lasers | Van 229 nm tot 1064 nm | |
| Spectrale resolutie | 0,3 cm-1 (FWHM, halfwaardebreedte) | Hoogste noodzakelijk: 1 cm-1 |
| Stabiliteit | < ±0,01 cm-1 | Variatie in de middenfrequentie van in kromme passende Si 520 cm-1 band, volgend uit herhaalde metingen. Bereikt met een spectrale resolutie van 1 cm-1 of hoger |
| Afsnijden lage golfnummers | 5 cm-1 | Laagste noodzakelijk: 100 cm-1 |
| Afsnijden hoge golfnummers | 30.000 cm-1 | Standaard: 4.000 cm-1 |
| Ruimtelijke resolutie (lateraal) | 0,25 µm | Standaard: 1 µm |
| Ruimtelijke resolutie (axiaal) | < 1 µm | Standaard: < 2 µm. Afhankelijk van objectief en laser |
| Grootte detector (standaard) | 1024 × 256 pixels | Overige leverbare opties |
| Werktemperatuur detector | -70 °C | |
| Ondersteunde Rayleigh-filters | Onbeperkt | Tot vier filtersets in automatische bevestiging. Extra filtersets onbeperkt ondersteund door nauwkeurige kinematische bevestigingen, door gebruiker te wisselen |
| Aantal ondersteunde lasers | Onbeperkt | Standaard één. Bij meer dan 4 extra lasers is montage op een optische tafel nodig |
| Sturing vanuit Windows-pc | Laatste specificatie van Windows®-pc | Inclusief pc-werkstation, monitor, toetsenbord en trackball |
| Voedingsspanning | 110 tot 240 V wisselspanning +10% -15% | |
| Voedingsfrequentie | 50 of 60 Hz | |
| Nominaal energieverbruik (spectrometer) | 150 W | |
| Diepte (systemen met twee lasers) | 930 mm | Voetplaat twee lasers |
| Diepte (systemen met drie lasers) | 1116 mm | Voetplaat drie lasers |
| Diepte (compact) | 610 mm | Tot drie lasers (afhankelijk van lasertype) |
| Gangbare massa (exclusief lasers) | 90 kg |