AFM Raman systeem

Vergroot uw inzicht op nanoschaal

Gecombineerde AFM/Raman instrumenten (ook bekend als SPM Raman) analyseren monsters beter, door chemische en structurele materiaaleigenschappen te onderzoeken op een sub-micrometer afstandsschaal.

Renishaw heeft een optimale technologie voor directe koppeling ontwikkeld waarmee de inVia Raman microscoop perfect te koppelen is aan een groot aantal SPM's, zodat tip-enhanced Raman spectroscopie (TERS), near-field technieken (SNOM, NSOM) en Raman-AFM mogelijk zijn.

De inVia Raman microscoop is aan elke SPM of AFM te koppelen, en daarnaast zijn volledig geïntegreerde systemen leverbaar met scanners van NT-MDT en Nanonics Imaging.

Visualisatie- en analysesystemen voor nanotechnologie in onderzoek en industrie

Maximaliseer de productiviteit

Alleen Renishaw levert volledig geïntegreerde systemen met scanners van NT-MDT en Nanonics Imaging. AFM Raman systemen van Renishaw bieden u het volgende:

• U heeft meer tijd met een geïntegreerd systeem - De integratie van mechanica en software is compleet, dus kunt u zich richten op gegevens verzamelen en analyseren.
• Sneller gegevens verzamelen - Directe koppeling tussen monster en Raman spectrometer geeft optimale efficiëntie in alle configuraties.
• Vertrouw op de deskundigen - De eerste TERS-metingen op een halfgeleider apparaat (gepubliceerd in 2001) en de eerste Raman-AFM/NSOM-metingen (gepubliceerd in 1995) werden uitgevoerd met Renishaw Raman systemen.
• De keus is aan u - Renishaw heeft de ervaring en deskundigheid om het SPM systeem van uw keuze in te bouwen.

Wat kan een Renishaw Raman-SPM systeem voor u betekenen?

AFM met Raman
U verkrijgt scangegevens met hoge ruimtelijke resolutie en snelle far-field Raman gegevens (normaliter sub-micrometer resolutie). Opgenomen Raman gegevens zijn te correleren met topografische, elektrische, thermische en near-field optische gegevens van hoge ruimtelijke resolutie.

Bij Raman analyse van een monster grafeen (zie afbeelding rechts) werden vijf verschillende grafeendiktes geïdentificeerd, waaronder éénlaagse en tweelaagse gedeeltes. De Raman gegevens werden gebruikt als leidraad bij SPM experimenten om op relevante plaatsen topografische, capacitaire en geleidingsmetingen uit te voeren.

TERS (ofwel near-field openingloze Raman)
Met een uiteinde wordt het Raman signaal zeer plaatselijk op het monster versterkt, binnen een groter gebied dat beschenen wordt door laserlicht. Deze configuratie biedt de hoogste ruimtelijke resolutie van alle Raman technieken.

De superieure ruimtelijke gevoeligheid van TERS is te demonstreren met gelaagde materialen. In de afbeelding hiernaast staan het near-field (TERS) en het far-field spectrum van een dunne siliciumlaag op SiGe. Door zijn superieure ruimtelijke gevoeligheid haalt TERS een veel intensere Raman band uit het silicium (bij een lagere Raman frequentie dan de SiGe Raman band van het bulkmateriaal).

Wilt u ontdekken hoe deze technologie uw inzicht op nanoschaal kan vergroten of meer weten over de integratie van een SPM of AFM model met een inVia Raman microscoop, vult u dan het online verzoekformulier in of neem contact op met uw plaatselijke Renishaw-vertegenwoordiging voor Raman.

Toepassingen

Ontdek de vele toepassingen van de Renishaw Raman systemen

Newsletter

All the latest innovations in Raman spectroscopy - newsletter sign up here

Download past and present newsletters from our Newsletter archive